【世界时快讯】中科院验证了 CAA IGZO FET 在 2T0C DARM 应用中的可靠性

el-All-Around,CAA）IGZOFET的基础上，研究了第二层器件堆叠前层间介质层工艺的影响，验证了CAAIGZOFET在2T0CDARM应用中的可靠性。CAAIGZOFET2023-01-10 12:02